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Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM):

El LVEM25 de Delong Instruments, es un Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) rápido, compacto y potente, diseñado para combinar a la perfección un factor de forma compacto con capacidades sin concesiones. Este microscopio combina las características técnicas exclusivas de LVEM con una penetración del haz de electrones más fuerte y, por lo tanto, es capaz de obtener imágenes de muestras preparadas de forma convencional. El LVEM25 es lo suficientemente compacto como para ser instalado en laboratorios de cualquier tamaño y es lo suficientemente fácil de operar como para que cualquiera pueda estar capacitado para operarlo. Con la resolución de imagen más alta de nuestros microscopios LVEM, múltiples modos de imagen y un diseño compacto, no es de extrañar que el LVEM25 ya sea un instrumento confiable en los campos de patología, virología y administración de fármacos.

Modos de imagen
El LVEM25 ofrece una solución de imágenes compacta de alto contraste y alto rendimiento con resoluciones nanométricas que tiene todos los beneficios de la microscopía de bajo voltaje sin limitaciones. El LVEM25 es un potente microscopio electrónico 3 en 1 con capacidades de investigación únicas que incluyen microscopía electrónica de transmisión (TEM), microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) e incluso difracción electrónica (ED). Sus capacidades de imagen multimodal combinadas con la capacidad de cambiar entre modos de imagen sin mover la muestra o realinear la columna hacen del LVEM25 una herramienta de imagen verdaderamente completa.
Características técnicas clave:
Factor de forma:
El microscopio LVEM25 es bastante versátil, ya que se puede instalar donde sea que se necesite la obtención de imágenes electrónicas. Está diseñado para encajar donde más se necesita, creando un entorno de trabajo perfecto.

Enfoque aproximado automático:
El eje z del LVEM25 es completamente motorizado, lo que permite el control de la altura de la muestra desde el panel de control y el software. Esto también permite el posicionamiento automático en altura Z y, por lo tanto, un enfoque aproximado automático.

Grabación de la posición del escenario:
Los actuadores piezoeléctricos pueden registrar su posición actual, lo que permite a los usuarios rastrear su ruta de visualización y marcar regiones de interés en el software. Estas posiciones se pueden recuperar posteriormente.

Bomba turbomolecular con bomba de diafragma:
Esta bomba con sistema de esclusa garantiza un intercambio de muestras rápido y limpio. Un sistema de autoventilación permite tiempos de ciclo rápidos.

3 bombas absorbentes de iones:
Estas bombas aseguran un espacio de muestra no contaminado para proporcionar siempre condiciones de imagen estables.

Arma de emisión de campo de 25kv:
La pistola de emisión de campo (FEG) de tipo Schottkey, de bajo voltaje, con muy alto brillo y coherencia espacial. Esto permite fuertes interacciones entre los electrones y la muestra. La vida útil mínima esperada del FEG es de alrededor de 2000 horas.

Pantalla YAG:
Una imagen TEM final de alta resolución se proyecta en la pantalla YAG a través del haz de electrones. A partir de ahí, la óptica de luz se hace cargo para producir una imagen en la pantalla de la computadora.

Manipulador:
El manipulador totalmente motorizado permite reposicionar una muestra de manera fácil y precisa dentro de la columna, lo que permite obtener imágenes de toda la muestra.

Panel de control:
La obtención de imágenes es muy sencilla con los controles intuitivos y cómodos que permiten el ajuste de la iluminación (ilumina la muestra), la corrección del haz (precisión del haz), la ampliación (hasta 1.0 nm de potencia de resolución) y el movimiento del escenario (punto de enfoque).

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Ficha Técnica

Modos de imagen: TEM, ED, STEM
TEM:
Voltaje de aceleración nominal: 25 kV
Poder de resolución: 1,0 nm
Ampliación total: 1 127 – 430 743 X
Campo de visión: 100 – 0.25 µm

DIFRACCIÓN ELECTRÓNICA:
Tamaño mínimo de la sonda: 500 nm

STEM 15:
Voltaje de aceleración nominal: 15 kV
Poder de resolución: 1.3 nm
Ampliación máxima: 375 000 X
Campo de visión máximo: 80 × 80 μm

STEM 10:
Voltaje de aceleración nominal: 10 kV
Poder de resolución: 1.0 nm
Ampliación máxima: 470 000 X
Campo de visión máximo: 105 × 105 μm

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