Espectroscopía de Fluorescencia de Rayos X

La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica espectroscópica que utiliza la emisión secundaria o fluorescente de radiación X generada al excitar una muestra con una fuente de radiación X. La radiación X incidente expulsa los electrones de capas interiores del átomo. Los electrones de capas más externas ocupan los lugares vacantes, y el exceso energético resultante de esta transición se disipa en forma de fotones, radiación X fluorescente o secundaria, con una longitud de onda característica que depende del gradiente energético entre los orbitales electrónicos implicados, y una intensidad directamente relacionada con la concentración del elemento en la muestra.
Las aplicaciones de FRX tiene como finalidad el análisis químico elemental, tanto cualitativo como cuantitativo, de los elementos comprendidos entre el Sodio (Na) y el uranio (U) de muestras sólidas (filtros, metales, rocas, muestras en polvo, tejidos, etc.) y liquidas, sin preparación de la muestra. El único requisito es que ésta tenga un tamaño inferior al del portamuestras.
El espectrómetro ElvaX Plus es un analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de escritorio (EDXRF) con un rango de elementos extendido de Na (Z = 11) a U (Z = 92). El sistema de purga de helio y el cambiador de filtro primario automático combinados con el detector SDD de área grande se utilizan para permitir el registro efectivo de los espectros de elementos de luz. El espectrómetro ElvaX Plus se utiliza para el análisis cuantitativo y cualitativo de la composición elemental de aleaciones de metales, líquidos, polvos, alimentos y muestras biológicas, así como muestras depositadas en superficies o filtros, en una amplia gama de concentraciones de elementos. El límite de detección del analizador es mejor que 1 ppm para la mayoría de los elementos en una matriz de luz.